扫描仪電子光学显微镜(SEM) 灵活运用的系统都是种处在光学元件散射光学元件透射电镜和光学元件透射电镜互相的一些分析机制,其运用瞄准的较窄的高激光光学元件束来测试原材料, 采用粒子束与的杂质间的完美的功效, 来提升各种各样的初中物理消息, 对这种消息采集而来、变成、再三维成像以提高对的杂质微形貌表现的目地。S-3400N是日立总部开售的中有VP模试(VariablePressure),就可控气态压模试的四款高特点钨灯丝测试电镜。采用VP模试,不导电原材料的单独探测作为将会,能让居然沉重感合蒸镀的原材料也可分析,扩张了广泛应用的范围。
一、设备租赁简要说明
日立S-3400N型钨丝灯扫描电子显微镜

日立S-3400N型钨丝灯扫描电子显微镜 设备简介
S-3400N的很多很多开发升级了测量仪器性能方面并变得简化了运营,对电镜的施用者具备着很大程度的实际作用。
新的电子枪和透镜设计,使得S-3400N在高低加速电压下均可成高分辨像,并且自动应对加速电压的数值调整电子枪的发射和透镜补偿,简化了操作,没有电镜使用经验的新用户也可轻松享受低加速电压带来的应用价值。
新的软硬件设计使得S-3400N具有优异性能和强大的扩展能力,同时操作简易维护方便,此外还继承了日立电镜一贯具有的优异的稳定性。
新增加的自动功能AAA(自动合轴)和ABS(自动束设定)简化了操作。

S-3400N检测电镜的高技术特别:
1、新增加的自动功能:AAA(自动合轴)、ABS(自动束设定)等
2、优异的低加速电压分辨率
3、实时的全屏、分割显示和新的信号混合模式
4、新开发的高灵敏半导体式背散射探头
5、强大的样品装载能力,可装载直径200mm的样品
6、强大的扩展能力,可同时安装能谱、波谱和EBSP
7、快捷、洁净的分子泵系统
8、电脑控制的优中心、5轴马达样品台,可倾斜-20~+90度(II型)
9、新颖的非接触式的碰撞保护功能(II型)
●机核心产品参数●


二、机器设备优势
日立HitachiS-3400N扫描电子显微镜设备具有新研制的电子光学系统和自动化功能显示系统有全屏显示,无闪烁,高像素和实时图像显示等优异的性能,它还可以实时信号混合并同时显示两个不同的检测器观测到的互不相同的样品信息。

1、光电光电控制系统的思想进步

2、简易的操作

3、轻型高灵巧4分割背散射探测器
日立HitachiS-3400N扫描电子显微镜通过高画质提升扫描电镜的分析能力和操作性,高灵敏度半导体背散射电子检测器可以在快速扫描模式下运行,这使得寻找大尺寸样品中感兴趣的区域更为简单和便利。

4、研究型样品英文室

5、笔记本有效控制的5轴起动电机试样台(II型)

6、保护方便简洁

7、选择装配功能表

三、设备检测应用
扫一扫器电镜(SEM)是接近散发出电镜和光学设备高倍显微镜相互的是一种微观世界粒子形貌关注的手段,可随便灵活运用备样表面层装修材料的材料功效展开微观世界粒子成相。如今的扫一扫器电镜都要装X放射线能谱仪试验装置,是这样可不可以另外展开显微策划 形貌的关注和微区材料数据分析,因它是现下甚为有的用的地理学研究方案设备。

